Школа-семинар «Методы рентгенофлуоресцентной спектроскопии и рентгеновской дифракции в задачах аналитического контроля»
Приглашаем принять участие в школе-семинаре «Методы рентгенофлуоресцентной спектроскопии и рентгеновской дифракции в задачах аналитического контроля».
Даты проведения: 13 - 17 октября 2025 года, 5 рабочих дней
Место проведения: Центр инжиниринга промышленных технологий НИТУ МИСИС.
По окончании обучения выдается удостоверение о повышении квалификации государственного образца.
Программа школы-семинара:
1. Теоретические основы метода рентгенофлуоресцентной спектроскопии (XRF);
2. Теоретические основы метода рентгеновской дифракции (XRD);
3. Пробоподготовка для методов XRF и XRD;
4. Современные подходы к обработке результатов XRF;
5. Современные подходы к обработке результатов XRD;
6. Использование результатов в управлении технологическим процессом.
Программа теоретических и практических занятий предназначена для:
-
руководителей лабораторий и технологических служб, специалистов методической группы и операторов дифрактометров – для повышения уровня профессиональной подготовки, изучения эффективных методов проведения анализа;
-
сотрудников лабораторий, использующих в своей работе методы рентгеновской флуоресценции и рентгеновской дифракции – для изучения теории этих методов, освоения современных подходов к обработке полученных данных, методов подготовки проб для проведения исследований и многих других вопросов.
Для получения более подробной информации напишите на e-mail: info@thermotechno.ru В теме письма напишите: Школа Термо Техно 2025
Количество мест ограничено.