Термо Техно

Тел.: +7 495 540 47 62

Консультации по методам анализа

Рентгенофлуоресцентный анализ (XRF)

XRF (x-ray fluorescence analysis, рентгенофлуоресцентный анализ) основан на возбуждении характеристического рентгеновского излучения в материале пробы с помощью первичного излучения от рентгеновской трубки и дальнейшей регистрации получаемого сигнала. Метод XRF является экспрессным, позволяет за минимальный период времени получить полную и достоверную информацию о качественном и количественном химическом составе материала.

Виды консультаций:

Работа в ПО OXSAS:

  • Навигация по основным вкладкам
  • Подготовка и создание аналитической программы
  • Качественный и количественный анализ неизвестной пробы
  • Формирование отчета
  • Использование установочных образцов для коррекции дрейфа прибора

Работа в ПО UniQuant:

  • Анализ пробы неизвестного состава.
  • Настройка общих данных.
  • Создание сокращенного метода.
  • Создание каппа-листа для анализа определенного вида материала.
  • Коррекция дрейфа прибора.

Объекты исследования:

  • Подбор оборудования, расходных материалов и режимов подготовки проб методом прессования.
  • Подбор оборудования, расходных материалов и режимов подготовки проб методом плавления.

Разработка методик

Рентгенофазовый анализ (XRD)

XRD — дифракционный метод исследования структуры вещества. В основе данного метода лежит явление дифракции рентгеновских лучей на трёхмерной кристаллической решётке.

Метод позволяет определять атомную структуру вещества, включающую в себя пространственную группу элементарной ячейки, её размеры и форму, а также определить группу симметрии кристалла.

Рентгеноструктурный анализ и по сей день является самым распространённым методом определения структуры вещества в силу его простоты, универсальности.

Виды консультаций


  • Работа в ПО Crystallographica Search-Match, ICDD PDF-2+Sieve, Match!, SiroQuant, XRDServer и т.д.

  • Направленные исследования образцов Заказчика (в т.ч. на площадке Заказчика) для обеспечения максимально достоверного качественного и количественного РФА

  • Создание шаблонов для автоматического количественного РФА в ПО XRDServer.

  • Разработка специализированных программных и аппаратных решений.

  • Конфигурирование оборудования и ПО под задачи Заказчика.

  • Разработка прописей МВИ


Разработка методик

Оптико-эмиссионный спектральный анализ

OES (Optical Emission Spectroscopy) основан на возбуждении материала твердой металлической пробы серией искровых разрядов, регистрации спектра излучения и расчета концентрации химических элементов по калибровочным зависимостям. Обладает очень коротким временем анализа (10…55 сек), высокой чувствительностью и точностью.

Пробоподготовка также проста - как правило применяется шлифовка поверхности на наждачном камне или бумаге для черных металлов, а для цветных металлов рекомендуется токарная или фрезерная обработка.

Виды консультаций

Работа в ПО OXSAS:

  • Способы навигации внутри ПО
  • Выполнение анализа неизвестной пробы
  • Выполнение стандартизации
  • Контроль параметров прибора при помощи ПО
  • Профилирование спектрометра
  • Создание аналитической программы
  • Работа с базой данных результатов
  • Передача результатов измерения в сеть
  • Выполнение архивирования и восстановления резервной копии
  • Пересчет результатов измерения после коррекции спектрометра
  • Выполнение анализа пробы с использованием типовой стандартизации
  • Работа с различными типами стандартных образцов
  • Работа с программой множественной регрессии MVR
  • Передача данных в программы SPC
  • Методика добавления образца на базовую кривую
  • Применение различных типов коррекций межэлементных влияний
  • Разработка методов контроля неметаллических включений с использованием алгоритмов анализа индивидуальных разрядов Spark-DAT

Работа с программами статистического контроля:

  • SPC LightHouse Software
  • SPC Synergy
Промышленная рентгеновская томография

Рентгеновская компьютерная томография (КТ) — неразрушающий метод анализа внутренней структуры объекта с различной точностью: макротомография (до миллиметра), микротомография (до микрона) и нанотомография (до сотен нанометров). Основой метода является закон поглощения рентгеновского излучения веществом. Величина поглощения зависит от материала и толщины контролируемого объекта, а также от интенсивности и энергии излучения.

Виды консультаций:

Вопросы по функционалу управляющего программного обеспечения:

  • Навигация по основным вкладкам.
  • Подбор воксельного разрешения сканирования.
  • Выбор параметров работы рентгеновской трубки системы КТ.
  • Определение параметров детектора системы КТ.
  • Создание проекта сканирования образца.

Вопросы по функционалу программного обеспечения для реконструкции данных:

  • Загрузка оригинальных данных по результатам сканирования образца.
  • Подбор параметров реконструкции.
  • Подбор методов корректировки и устранения артефактов изображения.
  • Создание реконструированной модели образца.

Вопросы по функционалу программного обеспечения для моделирования

  • Навигация по интерфейсу и программным пакетам.
  • Загрузка и подготовка (препроцессинг) данных объемной модели.
  • Сегментация данных.
  • Создание модели и подбор параметров расчета на основе сегментированных данных для различных свойств:
    • Геометрические свойства объемной модели — определение параметров пустотного и пространства и различных фаз материала в образце, анализ зерен материала и волокон композиционных материалов с использованием моделей ИИ.
    • Потоковые свойства — модель абсолютной проницаемости, двухфазный поток, расчет фильтрационных свойств материала, реактивный поток, диффузия.
    • Электрические и температурные свойства — индекс сопротивления, показатель цементации, анализ модели Li-ion батарей и моделирование заряда аккумуляторов, расчет теплопроводности.
    • Механические свойства — модуль упругости и жесткости, моделирование деформации и разрушения образца, акустические свойства.
  • Создание объемной модели нового композиционного материала на основе данных проанализированного образца или согласно дизайну.
  • Создание отчета по результатам анализа образца.
Получить консультацию

Консультации по методам анализа

XRF | XRD | OES | Томография | Пробоподготовка | PGNAA

Подробнее...

Подбор оборудования и демо анализы

Консультации при выборе оборудования, демо анализы.

Подробнее...

Обучающие программы

Теория и практика XRF | XRD | OES

Подробнее...

Разработка и внедрение методик

Разработка новых методик. Аттестованные методики.

Подробнее...

Статьи и публикации

Отраслевые издания и научно-популярные журналы

Подробнее...

Сервисная поддержка

Гарантийное и пост-гарантийное обслуживание

Подробнее...