Консультации по методам анализа

Рентгенофлуоресцентный анализ (XRF)

XRF (x-ray fluorescence analysis, рентгенофлуоресцентный анализ) основан на возбуждении характеристического рентгеновского излучения в материале пробы с помощью первичного излучения от рентгеновской трубки и дальнейшей регистрации получаемого сигнала. Метод XRF является экспрессным, позволяет за минимальный период времени получить полную и достоверную информацию о качественном и количественном химическом составе материала.

Виды консультаций:

Работа в ПО OXSAS:

• Навигация по основным вкладкам
• Подготовка и создание аналитической программы
• Качественный и количественный анализ неизвестной пробы
• Формирование отчета
• Использование установочных образцов для коррекции дрейфа прибора

Работа в ПО UniQuant:

• Анализ пробы неизвестного состава.
• Настройка общих данных.
• Создание сокращенного метода.
• Создание каппа-листа для анализа определенного вида материала.
• Коррекция дрейфа прибора.

Объекты исследования:

• Подбор оборудования, расходных материалов и режимов подготовки проб методом прессования.
• Подбор оборудования, расходных материалов и режимов подготовки проб методом плавления.

Разработка методик

Рентгенофазовый анализ (XRD)

XRD — дифракционный метод исследования структуры вещества. В основе данного метода лежит явление дифракции рентгеновских лучей на трёхмерной кристаллической решётке.

Метод позволяет определять атомную структуру вещества, включающую в себя пространственную группу элементарной ячейки, её размеры и форму, а также определить группу симметрии кристалла.

Рентгеноструктурный анализ и по сей день является самым распространённым методом определения структуры вещества в силу его простоты, универсальности.

Виды консультаций

• Работа в ПО Crystallographica Search-Match, ICDD PDF-2+Sieve, Match!, SiroQuant, XRDServer и т.д.

• Направленные исследования образцов Заказчика (в т.ч. на площадке Заказчика) для обеспечения максимально достоверного качественного и количественного РФА

• Создание шаблонов для автоматического количественного РФА в ПО XRDServer.

• Разработка специализированных программных и аппаратных решений.

• Конфигурирование оборудования и ПО под задачи Заказчика.

• Разработка прописей МВИ

Разработка методик

Оптико-эмиссионный спектральный анализ

OES (Optical Emission Spectroscopy) основан на возбуждении материала твердой металлической пробы серией искровых разрядов, регистрации спектра излучения и расчета концентрации химических элементов по калибровочным зависимостям. Обладает очень коротким временем анализа (10…55 сек), высокой чувствительностью и точностью.

Пробоподготовка также проста - как правило применяется шлифовка поверхности на наждачном камне или бумаге для черных металлов, а для цветных металлов рекомендуется токарная или фрезерная обработка.

Виды консультаций

Работа в ПО OXSAS:

• Способы навигации внутри ПО
• Выполнение анализа неизвестной пробы
• Выполнение стандартизации
• Контроль параметров прибора при помощи ПО
• Профилирование спектрометра
• Создание аналитической программы
• Работа с базой данных результатов
• Передача результатов измерения в сеть
• Выполнение архивирования и восстановления резервной копии
• Пересчет результатов измерения после коррекции спектрометра
• Выполнение анализа пробы с использованием типовой стандартизации
• Работа с различными типами стандартных образцов
• Работа с программой множественной регрессии MVR
• Передача данных в программы SPC
• Методика добавления образца на базовую кривую
• Применение различных типов коррекций межэлементных влияний
• Разработка методов контроля неметаллических включений с использованием алгоритмов анализа индивидуальных разрядов Spark-DAT

Работа с программами статистического контроля:

• SPC LightHouse Software
• SPC Synergy

Промышленная рентгеновская томография

Рентгеновская компьютерная томография (КТ) — неразрушающий метод анализа внутренней структуры объекта с различной точностью: макротомография (до миллиметра), микротомография (до микрона) и нанотомография (до сотен нанометров). Основой метода является закон поглощения рентгеновского излучения веществом. Величина поглощения зависит от материала и толщины контролируемого объекта, а также от интенсивности и энергии излучения.

Виды консультаций:

Вопросы по функционалу управляющего программного обеспечения:

• Навигация по основным вкладкам.
• Подбор воксельного разрешения сканирования.
• Выбор параметров работы рентгеновской трубки системы КТ.
• Определение параметров детектора системы КТ.
• Создание проекта сканирования образца.

Вопросы по функционалу программного обеспечения для реконструкции данных:

• Загрузка оригинальных данных по результатам сканирования образца.
• Подбор параметров реконструкции.
• Подбор методов корректировки и устранения артефактов изображения.
• Создание реконструированной модели образца.

Вопросы по функционалу программного обеспечения для моделирования

• Навигация по интерфейсу и программным пакетам.
• Загрузка и подготовка (препроцессинг) данных объемной модели.
• Сегментация данных.
• Создание модели и подбор параметров расчета на основе сегментированных данных для различных свойств:
  • Геометрические свойства объемной модели — определение параметров пустотного и пространства и различных фаз материала в образце, анализ зерен материала и волокон композиционных материалов с использованием моделей ИИ.
  • Потоковые свойства — модель абсолютной проницаемости, двухфазный поток, расчет фильтрационных свойств материала, реактивный поток, диффузия.
  • Электрические и температурные свойства — индекс сопротивления, показатель цементации, анализ модели Li-ion батарей и моделирование заряда аккумуляторов, расчет теплопроводности.
  • Механические свойства — модуль упругости и жесткости, моделирование деформации и разрушения образца, акустические свойства.
• Создание объемной модели нового композиционного материала на основе данных проанализированного образца или согласно дизайну.
• Создание отчета по результатам анализа образца.